薄膜測厚儀測試原理及操作方法介紹

　　薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離。對于微電子薄膜而言，如光學薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等，其厚度是一個非常重要的參數，直接關系到該薄膜材料能否正常工作。除此之外，薄膜的厚度也會直接影響到薄膜材料的力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結構等。

　　薄膜測厚儀

　　三泉中石CHY-U薄膜測厚儀是一種常用的薄膜厚度檢測方法，采用機械接觸式測量標準，適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度準確測量，誤差小，操作簡單方便，滿足GB/T 6672《塑料薄膜和薄片厚度測定 機械測量法》等標準。

　　測試原理

　　將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

　　薄膜測厚儀操作方法介紹

　　根據國標中的要求，對同一張薄膜選取10個測試點，薄膜厚度測量方法如下：

　　1、將兩個激光傳感器分裝在薄膜試樣的上下方，把傳感器固定在支架上。

　　2、打開儀器，設置參數，放置對比量塊，點擊“確認”。

　　3、取走滑塊，重新設置與步驟(2)相同的參數，放入薄膜試樣。

　　4、分別取10個不同的點，位置盡量錯開，避免因距離太近影響數據。

　　5、測量值通過串口傳輸到計算機，再通過在計算機上的測厚軟件進行處理，得到目標的厚度值。

　　三泉中石實驗儀器有限公司是一家專注于實驗室分析檢測儀器研發和銷售的高科技創新企業，專注于為質檢藥檢系統、食品行業、藥品行業、包裝印刷行業、膠黏劑行業、家電行業等提供包裝材料科學試驗儀器和全面質量控制解決方案。如需了解更多包裝檢測儀器，敬請關注三泉中石或聯系我們!